诊断学理论与实践

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2011 , Vol. 10 >Issue 06: 531 - 534

DOI: https://doi.org/10.16150/j.1671-2870.a1306

论文

颅脑CT能谱成像的最佳单能量选择研究

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  • 上海交通大学医学院附属瑞金医院放射科;通用电器中国CT影像研究室;

网络出版日期: 2011-12-25

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摘要

目的:评估颅脑CT平扫能谱成像时的最佳单能量水平,以最大限度减少图像噪声和线束硬化伪影(beam-hardening artifacts,BHAs)。方法:观察80例接受宝石能谱CT(Discovery CT750 HD)能谱扫描的患者。1次能谱扫描重建6组CT图像,即1组传统140 kVp混合能量图像和5组单能量图像(80、75、70、65和60 keV),测量并比较混合能量与单能量图像在颅脑的背景噪声(放射冠)及4个不同解剖部位(延髓、小脑、脑桥和额叶下部)的BHAs。结果:70 keV和65 keV图像的背景噪声低于140 kVp图像的背景噪声(P

关键词： 颅脑; X线计算机断层扫描; 能谱成像; 图像噪声; 线束硬化伪影

本文引用格式

董海鹏, 林晓珠, 缪飞, 张帅, 沈云, 陈克敏, . 颅脑CT能谱成像的最佳单能量选择研究[J]. 诊断学理论与实践, 2011 , 10(06) : 531 -534 . DOI: 10.16150/j.1671-2870.a1306

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