机械设计与研究 ›› 2012, Vol. 28 ›› Issue (03): 85-86+98.doi: 10.13952/j.cnki.jofmdr.a2866
连克难;陈金明;陈永鹏;胡东霞;赵运武;周海;
摘要： 某光学元件兼做真空容器密封件,在真空压力作用下多次发生破裂。采用缩比件压裂试验的方法分析破裂原因,并且找到了改进方案。试件的破裂压力和破裂形态表明,元件在真空压力作用下,磨削表面的微裂纹扩展,是造成元件破裂的原因,属于典型的脆性断裂。光学元件的材料是典型的脆性材料,做受力结构件时,结构应该尽量简化,且承力部位要在抛光处理的表面上。
