海洋工程装备与技术

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2019 , Vol. 6 >Issue 增刊: 464

DOI: https://doi.org/10.12087/oeet.2095-7297.2019.z1.87

相控阵超声波检测技术DMA探头的晶片检查 

  • 董春远 ,
  • 何　恩
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  •  (海洋石油工程股份有限公司,青岛266520)

网络出版日期: 2020-04-26

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Elements Check of DMA Probe for Phased Array Ultrasonic Testing Technology 

  • Dong　Chun-yuan ,
  • He　En
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  •  (China，s　Offshore　Oil　Engineering　Co.,Ltd.,Qingdao　266520,China)

Online published: 2020-04-26

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摘要

相控阵超声波检测DMA（Dual Matrix Array）探头由多个晶片组成，每个探头是由一系列独立的电线连接的晶片构成。如果任何一个环节出问题都会导致对应的晶片不能工作。不能被激活的晶片数量过多，会影响声束聚焦、探头偏转能力、灵敏度和分辨率，以上功能受影响，就会影响检测结果，探头将不能继续使用。因此使用前进行晶片检查很有必要，本文通过线性阵列探头晶片检查对比试验，成功得出了DMA探头晶片检查的方法，可作为应用参考。
 

关键词：  

本文引用格式

董春远 , 何　恩 . 相控阵超声波检测技术DMA探头的晶片检查 [J]. 海洋工程装备与技术, 2019 , 6(增刊) : 464 . DOI: 10.12087/oeet.2095-7297.2019.z1.87

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